筑波大学マテリアル先端リサーチインフラ事業
概要
お知らせ
装置予約
利用事例
FIB-SEM
EB描画装置
パターン投影リソグラフィ・ダイシング
走査型プローブ顕微鏡
デバイスシミュレーター
装置一覧
利用方法
利用形態
利用手順
資料ダウンロード
利用料金
設置場所
お問合せ
お問合せ
アクセス
閉じる
HOME
装置一覧
分析試料作製・前処理
分析試料作製・前処理
理論計算・シミュレーション
分析試料作製・前処理
成膜装置
リソグラフィー
走査型プローブ顕微鏡
組立・パッケージング
その他加工装置
膜加工・エッチング
電子顕微鏡
デバイス特性
分光・表面分析
その他分析装置
分析試料作製・前処理
FIB-SEM
